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简要描述:一、热处理 确定层的厚度,所有元素相对于深度的含量分布。定量化和鉴别表面污染、夹杂物和相比。 二、镀层薄板 根据化学成分、厚度和元素分布对涂层进行完整的表征。利用射频光源分析非导电涂料,如清漆和涂料。 三、硬质涂层 通过化学成分的快速分析,可以确定复合层的发展情况。其他重要的材料方便,如深度渗透的处理过程。 四、薄膜太阳能电池 太阳能薄膜电池镀层中元素分布的测定。 五、化学成分 化学物质成分的精确测定、分析的高重现性、快速分析<60秒、测定从H到U及从ppm至所有元素。
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详细介绍
GDA 150 HR
GDA150HR是装备有新一代CCD固体检测器的光谱仪,是生产部门的元素深度剖面分析和基体总量分析的得力工具。精心的设计使得仪器具备良好光谱分辨率和灵敏度,兼顾了用户在分析中对于精度和灵活性的要求。
SPECTRUMA公司推出的这种高分辨率CCD检测器,其性能可与PMT检测器媲美,从而使GDA150HR的分析能力达到了新高度。
高分辨率CCD光学系统使得GDA150HR具备无限的扩展能力,允许使用者在任何分析方法下任意扩展和增加任何元素的任何谱线,充分发挥和利用了CCD检测器的优势。
这种灵活性允许进行快速的基体总量和涂镀层分析,所有元素,包括H,O,N,C等非金属元素均可进行定量分析
在含量―深度测量中,分析深度可达200um,深度检测精度可优化至5%左右。检测限可低至亚ppm级。在基体总量分析中,尤其对于复杂基体,具备优异的线性校准曲线。检出限也可低至亚ppm级。
GDA150HR配备了新一代的辉光激发光源,溅射束斑直径从1mm至8mm。
通用样品夹具 (USU)可用于小样品和异形样品(在不能与常规的激发光源配合密封情况下)的分析,无需更换特殊电极。
GDA 150HR适用于分析导体样品。
GDA 650 HR
GDA 650 HR是新一代装备CCD检测器的辉光放电光谱仪,CCD固态检测器与高分辨率光学系统匹配。它不但具备传统光电倍增管的低噪声、宽动态范围的特点,而且具备优异的光谱分辨能力和全谱数据采集能力,特别适合于同时需要高精度检测和分析灵活性的用户。
高分辨率CCD光学系统使得GDA 650HR具备无限的扩展能力,允许使用者在任何分析方法下,任意扩展和增加任何CCD分析通道。这种灵活性允许进行快速的基体总量和涂镀层分析,所有元素,包括O,N,C等非金属元素均可进行定量分析。
在含量-深度测量中,分析深度可达200um,深度检测精度可优化至5%左右。检测限可达亚ppm级。同时,GDA 650HR在基体总量分析中,具备优异的线性校准曲线,尤其适用于复杂基体。检出限也可达亚ppm级。
GDA 650 HR配备了新一代的辉光激发光源,溅射束斑直径从1mm至8mm。
通用样品夹具(UsU)可用于小样品和异形样品(在不能与常规的激发光源密封配合的情况下)的分析,无需更换特殊电极。
GDA 650HR配备了脉冲式射频光源(PulsedRF),用于分析非导体样品,如:陶瓷、玻璃、有机涂层、有机薄膜等。还可选装配置特殊样品转移仓(选装件),用于分析极薄的薄膜和在空气中易氧化的样品。
GDA650HR装备有新开发和升级的外部等离子点火功能,使辉光等离子体具有极低的、稳定的、平缓的激发条件,极大的改善了样品的表面、近表面、临界界面的分析性能,扩展了在材料分析的应用范围。
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