OE750: 解答您的疑问

OE750直读光谱仪（OES）采用日立的一些成熟技术，其出色的性能可为整个光谱范围内金属检测提供低检出限。毋庸置疑，关于OE750的问题往往与分析技术和操作性能相关。

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为什么检出限在金属质量控制中非常重要

日立新型OE750火花光谱仪能够以非常低的检出限测量整个金属元素谱。对于我们日立分析仪器而言，该功能是OE750开发团队的目标，为此，我们开发构思了一个全新的光学概念，并采用了不同的探测器技术。我们认为检测限全面低于10 ppm或高于1 ppm（取决于应用和元素）对于当今的金属质量控制非常重要。以下是对检出限为何如此重要的原因的阐述。

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便携式PMI分析仪如何确保更加轻松地采取积极主动方法

便携式、坚固耐用的PMI（材料可靠性鉴定）分析仪已掀起重大变革，例如，其能使石油和天然气上游、中游和下游运营商确保其场所以安全、合规和高效的方式工作。 这同样适用于发电厂和化工厂。 便携式合金分析仪能确保更加简单地采取主动方法来进行过程安全、管道完整性管理以及较早检测安全和过程风险。这一点很重要，因为许多运营商仍然倾向于采用被动方法，即他们仅在设备和系统开始出现退化或损坏迹象后才解决问题。 被动策略通常会导致更高的维护成本、更多的计划外停机时间和更高的风险，同时增加实现战略和商业生产目标的难度。然而，追溯性材料可靠性鉴定 （retro-PMI）或安全检查不一定是一个昂贵或耗时的过程。当与云存储等数据管理解决方案相匹配时，它有助于大幅度地减少计划外停机、运营中断、不可预见的成本和灾难性故障。

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日立XRF 镀层测厚仪产品对比

FT230 旨在简化和加速零件和组件的测试，从而更轻松地在更短的时间内测量更多零件。 FT230 具有 Find My Part™ （查找我的样品）智能识别、自动样品聚焦和广角摄像头等功能，可减少设置时间和用户失误操作，从而提高通量和生产力。 让您的 XRF 设备帮您做决定。

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