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  • 日立FOUNDRY-MASTER SMART 台式全谱火花直读光谱仪
    日立FOUNDRY-MASTER SMART 台式全谱火花直读光谱仪

    FOUNDRY-MASTER Smart是金属生产和加工行业的理想解决方案,可提供经济高效且可靠的分析。 这款新一代的直读光谱仪以非常紧凑的尺寸提供了高分析性能。 这款OES火花光谱仪的启动和测量时间非常短,可通过氮气分析识别双相钢,并具有火花台,可从三个侧面进行操作。

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  • 日立FM EXPERT台式全谱火花直读光谱仪(立式可选)
    日立FM EXPERT台式全谱火花直读光谱仪(立式可选)

    低含量氮分析 FM EXPERT是一款全新直读光谱仪,集优良的分析性能和紧凑型设计为一体。其较宽的波长范围使其适用于在金属质量保证和生产工艺控制过程中分析所有相关元素。同时,FM EXPERT配备紧凑型CCD光学系统,还可分析低含量氮。 FM EXPERT结合了我们已获智能光学系统和改良的等离子体视图,确保在整个波长范围内实现优良的分析性能,且检出限低。氩气净化光学系统降低了维护周期和运营成本。FM EXPERT的密封氩气系统属于同类中理想产品,可提供理想光学等离子体观测视野、喷射电极技术,确保可靠的氮分析。

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  • 日立OE720/OE750 台式全谱火花直读光谱仪(立式可选)
    日立OE720/OE750 台式全谱火花直读光谱仪(立式可选)

    高性价比的金属分析 OE720和OE750是突破性的OES金属分析仪。其涵盖了金属元素的全部光谱,并具有同类产品中较低的检出限。 由于行业法规日益严格,供应链变得复杂以及更多地使用废料作为基础材料,因此铸造厂和金属制造商必须将杂质和痕量元素控制在ppm范围内。在过去,这一级别的OES对许多企业而言是遥不可及。日立分析仪器推出的OE系列可改变这一现状。 日立直读光谱仪可用于分析所有主要合金元素,并识别金属中含量较低的杂质、痕量元素和关心元素,OE750还覆盖了罕见的应用,例如铜中的氧气和钛中的氧气、氮气和氢气。 OE系列的测量速度快、可靠性高且运营成本低,可进行高性价比的日常分析和全面质量控制,其性能可与更大、更贵的光谱仪媲美。

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  • 日立PMI-MASTER SMART 便携式全谱火花直读光谱仪
    日立PMI-MASTER SMART 便携式全谱火花直读光谱仪

    当需要在安全关键的环境中可靠地分析钢和其他合金材料(如铝、镍和铜)时,需一台可快速提供具有高信赖度分析性能的分析仪。 德国制造的PMI-MASTER Smart OES光谱仪几乎无需预热时间,重量轻,体积小,便于便携,可轻松将其携带至任何地点,并在高处、沟渠中、材料检验区内外以及实验室中使用。

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  • 日立PMI-MASTER PRO2 移动式全谱火花直读光谱仪
    日立PMI-MASTER PRO2 移动式全谱火花直读光谱仪

    如果您试图防止进出物料的牌号发生混淆,进行物料验证和质量控制,或在废品场实现利润效益的大幅提升,则我们可以为您提供解决方案。借助移动式火花光谱仪PMI-MASTER Pro2,使用火花OES光谱仪进行金属元素分析,您将有信心获得所需的分析性能,以便做出正确决策。

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  • 日立X-MET8000系列手持式XRF光谱仪
    日立X-MET8000系列手持式XRF光谱仪

    X-MET8000系列手持式X射线荧光(HHXRF)分析仪具备进行快速合金号识别并对各种材料(固体和金属粉末、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等)进行精确化学分析的性能。X-MET手持式XRF分析仪实用且坚固,易于使用,可提供值得信任的结果。 我们提供一系列手持XRF光谱仪型号,以满足不同应用的所有分析需求和预算。我们的手持式XRF光谱仪系列提供保修和新服务以及校准计划,可帮助贵司节省资金。

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  • 日立Vulcan+ 系列手持式LIBS光谱仪
    日立Vulcan+ 系列手持式LIBS光谱仪

    Vulcan 是一款耐用且分析速度快得惊人的合金分析仪,并提供3年保修*。扣扳机后一秒即会显示结果。且产品使用激光诱导击穿光谱技术 (LIBS),您无需担心X射线的影响。 无论您的业务是废料分选还是 PMI 质量控制,Vulcan 始终提供准确且一致的合金号。

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  • 日立XRF 镀层测厚仪X-Strata920
    日立XRF 镀层测厚仪X-Strata920

    X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 镀层测厚仪,具有多种选择,可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的涂层,适合用于确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析。

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  • 日立XRF 镀层测厚仪FT110A
    日立XRF 镀层测厚仪FT110A

    FT110A 是一款台式 XRF 镀层测厚仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合严苛标准。

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  • 日立XRF 镀层测厚仪FT230
    日立XRF 镀层测厚仪FT230

    FT230 旨在简化和加速零件和组件的测试,从而更轻松地在更短的时间内测量更多零件。 FT230 具有 Find My Part™ (查找我的样品)智能识别、自动样品聚焦和广角摄像头等功能,可减少设置时间和用户失误操作,从而提高通量和生产力。 让您的 XRF 设备帮您做决定。

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  • 日立XRF 镀层测厚仪FT160
    日立XRF 镀层测厚仪FT160

    FT160 台式 XRF 镀层测厚仪,旨在测量当今 PCB、半导体和微连接器上的微小部件。 准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。

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  • 日立手持式镀层测厚仪
    日立手持式镀层测厚仪

    我们的厚度测量仪器提供可靠、简单的操作以及准确的测量。 具有功能强大,用户界面良好,从初级水平到双重技术的可扩展型等系列产品可供选择。

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