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    日立XRF 镀层测厚仪FT160

    FT160 台式 XRF 镀层测厚仪，旨在测量当今 PCB、半导体和微连接器上的微小部件。 准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。

    更新日期：2023-12-09
    型号：FT160
    厂商性质：代理商
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